rohs检测仪多样式分析重金属含量
信息来源于： 发布于：2020-06-30
rohs检测仪在电子电气方面可进行RoHS指令、无卤素等筛选分析，半导体、存储装置、液晶、太阳能电池等各种薄膜分析。目的就是为了查探重金属是否超标。
rohs检测仪(XRF)作为常规、快速的分析手段，开始于20世纪50年代初，经历了50多年的不断发展，现在已成为物质组成分析的必备方法之一。在我国的相关生产企业的检测、筛选和控制有害元素含量中，rohs检测仪的X射线荧光分析技术(XRF)提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的有效途径;与其他分析方法(例如：发射光谱、吸收光谱、分光光度计、色谱质谱等)比较而言，作为过程控制和检测使用，XRF特别适合用于各类相关生产企业，具有无需对样品进行特别的化学处理，以及方便、测量成本低、快速等明显优势。
rohs检测仪图片
由于rohs检测仪可以非破坏性分析固体、粉末、液体样品，也可以快速、非破坏性的测试印刷电路板和其他电子设备中有害元素，因此被广泛用于全球的电子电气和汽车制造企业，应用于符合欧盟RoHS/ ELV指令的检查和质量控制。
rohs检测仪特点：
“一键”分析：操作简单，只需简单培训
大图标触摸屏界面易于操作，是目前市场上最大的彩色触摸屏，采用图标操作的用户界面：在任何天气条件下都能呈现满意可视度。
简单强大的安全数据下载系统，灵活的报告导出格式，并具有wifi功能
强大数据下载功能，灵活的报告格式
经久耐用的设计
广泛的金属牌号库
快速精确的分析
长达10-12小时的电池量，充电一次可以使用一整天
定性分析
不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长，因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪，对于一定晶面间距的晶体，由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ，从而确定元素成分。事实上，在定性分析时，可以靠计算机自动识别谱线，给出定性结果。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干扰时，仍需人工鉴别。首先识别出X射线管靶材的特征X射线和强峰的伴随线，然后根据2θ角标注剩斜谱线。在分析未知谱线时，要同时考虑到样品的来源，性质等因素，以便综合判断。
定量分析
rohs检测仪进行定量分析的依据是元素的荧光X射线强度I1与试验中该元素的含量Wi成正比： Ii=IsWi
式中，Is为Wi=100%时，该元素的荧光X射线的强度。根据上式，可以采用标准曲线法，增量法，内标法等进行定量分析。但是这些方法都要使标准样品的组成与试样的组成尽可能相同或相似，否则试样的基体效应或共存元素的影响，会给测定结果造成很大的偏差。所谓基体效应是指样品的基本化学组成和物理化学状态的变化对X射线荧光强度所造成的影响。化学组成的变化，会影响样品对一次X射线和X射线荧光的吸收，也会改变荧光增强效应。
rohs检测仪(XRF)作为常规、快速的分析手段，开始于20世纪50年代初，经历了50多年的不断发展，现在已成为物质组成分析的必备方法之一。在我国的相关生产企业的检测、筛选和控制有害元素含量中，rohs检测仪的X射线荧光分析技术(XRF)提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的有效途径;与其他分析方法(例如：发射光谱、吸收光谱、分光光度计、色谱质谱等)比较而言，作为过程控制和检测使用，XRF特别适合用于各类相关生产企业，具有无需对样品进行特别的化学处理，以及方便、测量成本低、快速等明显优势。
rohs检测仪图片
由于rohs检测仪可以非破坏性分析固体、粉末、液体样品，也可以快速、非破坏性的测试印刷电路板和其他电子设备中有害元素，因此被广泛用于全球的电子电气和汽车制造企业，应用于符合欧盟RoHS/ ELV指令的检查和质量控制。
rohs检测仪特点：
“一键”分析：操作简单，只需简单培训
大图标触摸屏界面易于操作，是目前市场上最大的彩色触摸屏，采用图标操作的用户界面：在任何天气条件下都能呈现满意可视度。
简单强大的安全数据下载系统，灵活的报告导出格式，并具有wifi功能
强大数据下载功能，灵活的报告格式
经久耐用的设计
广泛的金属牌号库
快速精确的分析
长达10-12小时的电池量，充电一次可以使用一整天
定性分析
不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长，因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪，对于一定晶面间距的晶体，由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ，从而确定元素成分。事实上，在定性分析时，可以靠计算机自动识别谱线，给出定性结果。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干扰时，仍需人工鉴别。首先识别出X射线管靶材的特征X射线和强峰的伴随线，然后根据2θ角标注剩斜谱线。在分析未知谱线时，要同时考虑到样品的来源，性质等因素，以便综合判断。
定量分析
rohs检测仪进行定量分析的依据是元素的荧光X射线强度I1与试验中该元素的含量Wi成正比： Ii=IsWi
式中，Is为Wi=100%时，该元素的荧光X射线的强度。根据上式，可以采用标准曲线法，增量法，内标法等进行定量分析。但是这些方法都要使标准样品的组成与试样的组成尽可能相同或相似，否则试样的基体效应或共存元素的影响，会给测定结果造成很大的偏差。所谓基体效应是指样品的基本化学组成和物理化学状态的变化对X射线荧光强度所造成的影响。化学组成的变化，会影响样品对一次X射线和X射线荧光的吸收，也会改变荧光增强效应。
